公差配合与技术测量-T 工业技术-安徽瀚文图书有限责任公司

公差配合与技术测量

ISBN：9787040612646

价格：36

副题名：

分辑号：

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主要著作者：薛庆红，许岚，苗盈主编

发行地：北京

出版社：高等教育出版社

出版日期：2024.01

页码：208页

开本：26cm

丛书项：

一般性附注：

读者对象：高职

主题词：公差

中图法分类：TG801

装帧：

版次：2版

图表：

语种：chi

本书是“十四五”职业教育国家规划教材。本书的编写遵循职业教育教学规律，吸收近年来职业教育改革的成果，以成果导向为主导思想，理论与实践紧密结合。全书采用最新颁布的国家标准，把传统测量技术与先进测量设备及新技术应用相结合，使教材内容与技术发展紧密结合。本书共分7章，内容包括：绪论，尺寸的公差、配合与检测，几何公差与检测，表面粗糙度与检测，圆锥和角度尺寸的公差与检测，光滑极限量规设计，常用结合件的公差与检测，并在关键知识点配有数字化资源，以及国家级职业教育专业教学资源库课程“几何精密测量”，供读者在线学习。根据

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