公差与技术测量-T 工业技术-安徽瀚文图书有限责任公司

公差与技术测量

ISBN：9787576336351

价格：84

副题名：

分辑号：

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主要著作者：黄皞磊主编

发行地：北京

出版社：北京理工大学出版社有限责任公司

出版日期：2024

页码：258页

开本：26cm

丛书项：

一般性附注：

读者对象：

主题词：公差

中图法分类：TG801

装帧：

版次：

图表：图,照片

语种：chi

本书主要内容包括:光滑圆柱体结合的互换性、长度测量基础、几何公差与检测、表面粗糙度、光滑极限量规、滚动轴承的互换性与检测、圆锥的互换性与检测、平键与花键联结的互换性与检测、普通螺纹结合的互换性与检测、渐开线直齿圆柱齿轮传动的互换性与检测等。

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