半导体器件建模与测试实验教程
ISBN：9787121493713
价格：58
副题名：基于华大九天器件建模与验证平台XModel
分辑号：
分辑名：
主要著作者：杜江锋，石艳玲，朱能勇编著
发行地：北京
出版社：电子工业出版社
出版日期：2025
页码：213页
开本：26cm
丛书项：集成电路系列丛书
一般性附注：国产EDA系列教材
读者对象：
主题词：半导体器件
中图法分类：TN303
装帧：
版次：
图表：图
语种：chi
本教程在简要介绍MOSFET场效应晶体管器件结构和工作原理的基础上，全面叙述了MOSFET基本电学特性和二阶效应；介绍了MOSFET器件模型及建模测试结构和方案设计；给出了MOSFETBSIM模型参数提取流程；介绍了半导体器件SPICE模型建模平台EmpyreanXModel，深入介绍了XModel的基本功能和界面；介绍了MOSFET器件电学特性测试平台、测试模式和测试流程；分别介绍了MOSFET器件电学特性如C-V、转移特性和输出特性的测量方法；深入介绍了MOSFET模型参数提取的实验步骤和使用流程；介绍了MOSFET射频模型参数提取方法和使用流程；并介绍了GaN器件模型参数提取方法和使用流程。
关于我们
安徽瀚文图书有限责任公司成立于2006年，经安徽省工商部门注册登记，拥有国家新闻出版单位颁发的图书二级批发资质。集学校图书馆装备、高校教材订购、图书馆自动化管理系统安装、维护、图书防盗系统配备、图书编目服务、电子图书馆、校园一卡通建设一体的文化教育服务企业。
联系我们
- 李先生
- 0553-4991169
- 13909637168
- 芜湖市高新开发区西山路24号
Copyright © 2006 安徽瀚文图书有限责任公司 All Rights Reserved. 皖ICP备18020283号-1