Java研发自测-T 工业技术-安徽瀚文图书有限责任公司

Java研发自测

ISBN：9787115629739

价格：89

副题名：入门与进阶

分辑号：

分辑名：

主要著作者：林宁, 魏兆玉著

发行地：北京

出版社：人民邮电出版社

出版日期：2023.12

页码：334页

开本：24cm

丛书项：

一般性附注：

读者对象：本书适用于程序设计人员

主题词：JAVA语言－程序设计

中图法分类：TP312.8

装帧：

版次：

图表：

语种：chi

本书共三部分, 第一部分是研发自测基础, 包括测试基础, 代码评审, 单元测试, 测试替身, Spring 环境下的测试, API 测试等内容。第二部分介绍研发自测进阶内容, 包括微基准和并发测试, 测试工程化 (TestOps) , 测试驱动设计 (TDD) 测试守护重构等内容。第三部分探秘测试框架, 将对测试框架原理进行分析, 帮助解决测试过程中常见的问题。包含 junit、mockito、Hamcrest、jacoco 等库和框架。

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