微观缺陷对炸药性能影响的分子动力学模拟-T 工业技术-安徽瀚文图书有限责任公司

微观缺陷对炸药性能影响的分子动力学模拟

ISBN：9787118137699

价格：79

副题名：

分辑号：

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主要著作者：杭贵云，王金涛，王涛著

发行地：北京

出版社：国防工业出版社

出版日期：2025

页码：203页

开本：24cm

丛书项：

一般性附注：

读者对象：

主题词：晶体缺陷

中图法分类：TQ560.71

装帧：

版次：

图表：图

语种：chi

本书共分为6章：第1章介绍含能材料微观缺陷的基础知识，包括微观缺陷产生的原因、微观缺陷产生的机理、含能材料微观缺陷研究现状；第2章介绍分子动力学理论基础知识；第3章选取高能炸药PETN、HMX为研究对象，探究微观缺陷对单体炸药性能影响情况；第4章以HMX基PBX、CL-20基PBX与B炸药为研究对象，探究微观缺陷对混合炸药性能影响；第5章选取典型的CL-20/DNB、CL-20/TNT、CL-20/NQ、CL-20/HMX共晶炸药为研究对象，探究微观缺陷对CL-20共晶炸药性能影响情况；第6章选取HMX/NTO、HMX/NQ为研究对象，探究微观缺陷对HMX共晶炸药性能影响情况。

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